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MultiDetek2高纯氩色谱仪采用PED等离子发射法技术测量氩气中的杂质 - 埃登威自动化系统设备(上海)有限公司

MultiDetek2高纯氩色谱仪采用PED等离子发射法技术测量氩气中的杂质

第三代等离子发射技术的发布和应用,为我国的气体产业升级、石油化工、冶金、环保、生化医疗等领域提供了一种高效分析手段,特别在气体微量含量分析领域具有应用优势,LDETEK成为世界上头个拥有此技术的厂家。基于这一技术,该公司开发了一系列衍生技术和产品。MultiDetek2高纯氩色谱仪采用PED等离子发射法技术测量氩气中的杂质其中,氧氩分离技术采用了专有的色谱柱和光谱滤光技术,可减少检测的中间环节以及误差和误操作,提高安全性,适用于高纯气体、特种气体、电子气体行业的分析应用;痕量Ne的分析技术已在中国计量院等单位得到了应用和验证,对Ne的检测有很高的响应度,可以实现1ppb等级的痕量Ne分析;氮气做载气的等离子体发射技术可以替代火焰离子化检测仪(FID),检测烃类、挥发性有机化合物(VOCs)等气体,可达到ppb级分析灵敏度,且运行成本极低。MultiDetek2高纯氩色谱仪采用PED等离子发射法技术测量氩气中的杂质产品:微量氮分析仪|益康烟气分析仪|LPDT露点仪|美国深特露点仪|美国AII微量氧分析仪|便携式露点仪|Presens顶空分析仪|药品残氧仪|XPDM便携式露点仪|氧分析仪GPR-1200|氧分析仪价格|益康烟气分析仪|进口烟气分析仪|便携式微量氧分析仪|进口露点仪|进口氧分析仪|PTI弯曲挺度仪|Frank-PTI仪器|仪器维修|硫化氢气体分析仪|露点仪校准


“基于第三代低温等离子发射技术,LDETEK开发出MD2专用气相色谱仪新产品和PlasmaDetek 3检测器产品。”MD2专用气相色谱仪可实现用N2作为载气、氧氩分离以及痕量Ne检测。

与MD2色谱仪配套的PlasmaDetek 3检测器产品不仅可更换滤光片、可加热,还具有多方面的应用优势。MultiDetek2高纯氩色谱仪采用PED等离子发射法技术测量氩气中的杂质一是具有较高的选择性,可*大程度避免主组分干扰,且其直线型结构可实现无死体积、吹扫快速。二是根据不同的检测要求,氦(He)、氮(N2)、氩(Ar)、氖(Ne)均可作为载气,且检测过程无放射性、无放电电极,能避免载气或样品气的污染。三是检测灵敏度高,同等条件下,可达0。5ppb~1ppb的检出限,特别对苯、VOCs等气体杂质均有很高的响应,如Ne、H2S、COS、C6H6均能达到1ppb检出限。四是不需使用脱氧肼或脱氧柱就能实现对O2、Ar的直接检测。


采用加拿大LDETEK的MultiDetek2色谱仪测量氩气中的杂质,测量结果准确,不受干扰。


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